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國產(chǎn)x射線鍍層測厚儀

簡要描述:

Thick 8000國產(chǎn)x射線鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

THICK8000型x射線鍍層測厚儀

 

thick8000.jpg

 

1、儀器概述

    Thick 8000國產(chǎn)x射線鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

2、性能優(yōu)勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
良好的圖像識別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機(jī)自動退出自檢、復(fù)位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果

3、技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時(shí)檢測元素:zui多24個元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,zui薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用良好的微孔準(zhǔn)直技術(shù),zui小孔徑達(dá)0.1mm,zui小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

4、測試實(shí)例

在保證計(jì)數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素,大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。

Thick 8000國產(chǎn)x射線鍍層測厚儀檢測譜圖

某國外儀器檢測譜圖

11次測量結(jié)果(Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對比如下:

次數(shù)

Thick8000

行業(yè)內(nèi)其他儀器

1

0.042

0.0481

2

0.043

0.0459

3

0.043

0.0461

4

0.0412

0.0432

5

0.0429

0.0458

6

0.0436

0.0458

7

0.0427

0.0483

8

0.0425

0.045

9

0.0416

0.0455

10

0.0432

0.0485

11

0.0422

0.043

平均值

0.0425

0.0459

標(biāo)準(zhǔn)偏差

0.0007

0.0019

相對標(biāo)準(zhǔn)偏差

1.70%

4.03%

極差

0.0024

0.0055

   

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