SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀是一款功能強大的X熒光光譜儀。它綜合了儀器的常規(guī)測試(普通模式)和*的光路系統(tǒng)測試 (超銳模式),普通模式能完成全元素,貴金屬,RoHS,鍍層等常規(guī)測試,超銳模式能對客戶比較關(guān)心的低含量元素進行更精確的測試。主要是使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng),降低儀器的背景噪音,提高儀器的檢出能力,從而提高儀器的整體檢測性能。
儀器介紹
SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀是一款功能強大的X熒光光譜儀。它綜合了儀器的常規(guī)測試(普通模式)和*的光路系統(tǒng)測試 (超銳模式),普通模式能完成全元素,貴金屬,RoHS,鍍層等常規(guī)測試,超銳模式能對客戶比較關(guān)心的低含量元素進行更精確的測試。主要是使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng),降低儀器的背景噪音,提高儀器的檢出能力,從而提高儀器的整體檢測性能。
技術(shù)指標
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
可進行測試模式之間的轉(zhuǎn)換,提高測試的效率
可對10個樣品進行自動切換測試
一次可同時分析zui多幾十種元素
分析檢出限zui高可達0.1ppm
分析含量一般為0.1ppm到99.9%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩(wěn)定性為0.1%
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
標準配置
超銳X光源和樣品激發(fā)機構(gòu)
上蓋電動開關(guān)的大容量樣品腔
可自動切換的準直器,濾光片
高清晰CCD攝像頭
SDD探測器
數(shù)字多道采集處理系統(tǒng)
高低壓電源
進口400W端窗光管油冷散熱系統(tǒng),具有自動控溫功能
樣品自動切換系統(tǒng)
全自動真空系統(tǒng)
專業(yè)X熒光分析軟件
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸: 752(W)x759(L)x 988(H)
樣品腔尺寸:¢376×50 mm
重量:小于250Kg
性能特點
特殊光路系統(tǒng)
采用特殊的光路系統(tǒng),可滿足不同基體中痕量元素的測量,提高信噪比,降低檢出限。
400W大功率X光源
400W大功率光源使難以激發(fā)的痕量元素獲得更高的計數(shù)率,比普通EDXRF儀器的元素檢出限降低一個數(shù)量級,更加適合痕量元素的檢測。
數(shù)字多道技術(shù)
采用數(shù)字多道技術(shù),儀器可探測的計數(shù)率可高至100kcps,提高了儀器的測量精度,縮短了測量時間。
油冷散熱系統(tǒng)
油冷散熱系統(tǒng),保證了大功率X光源的散熱,使儀器的運行更加穩(wěn)定。
光閘系統(tǒng)
光閘系統(tǒng),保證X光源的穩(wěn)定性,同時提升X光管使用壽命。
抽真空系統(tǒng)
抽真空系統(tǒng),可以滿足輕元素的測量。
自動進樣系統(tǒng)
自動進樣系統(tǒng),可以一次連續(xù)檢測十二個樣品,大大提高了測試人員的工作效率。
SUPER XRF 2400側(cè)試模式
普通模式:為普通儀器的常規(guī)測試。
超銳模式:使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng),SUPER XRF 2400使用的原理主要能實現(xiàn)兩大功能,降低背景,提高檢出能力。
一、如圖一所示,下圖為測土壤中的V(綠)和Cr(紅)。實譜為超銳模式,測得的譜圖,紅色虛譜為普通模式譜圖。由圖可看出,對于關(guān)注元素。超銳模式明顯出峰,而普通模式幾乎沒有出峰。
二、下圖二所示,為測土壤中的Zr,實譜為超銳模式所測譜圖,紅色虛譜為普通模式所測譜圖。超銳模式所測得的Zr有效峰背比強度為210.05。普通模式所測得的Zr在相同測試條件下有效峰背比強度為155.72。由圖可以看出超銳模式比普通模式出峰要好,而且超銳模式降低了背景。
從以上譜圖一可以看出,我們在進行常規(guī)測試時。由于土壤中的V、Cr含量低。是無法檢測出其含量的。譜圖二中,雖然Zr能檢測出峰,但是其背景也比較高,對測試的結(jié)構(gòu)影響比較大。而在使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng),能降低背景,檢測出低含量的元素,提高儀器的檢出能力。從而提高儀器的整體測試效果。
應用領域
SUPER XRF 2400不僅可滿足中心實驗室和分包實驗室的分析需要,而且適用于環(huán)境監(jiān)測、化工、采礦、鑒定、食品、電子、水泥和冶金行業(yè)。