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X光膜厚儀測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述:

X光膜厚儀測(cè)厚儀
EDX600是集天瑞儀器多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿足貴金屬成分檢測(cè)的需要,人性化的設(shè)計(jì),使測(cè)試工作更加輕松完成。
EDX600貴金屬檢測(cè)儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位,滿足貴金屬的成分檢測(cè)和鍍層厚度測(cè)量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)

EDX 600 X光膜厚儀測(cè)厚儀——X熒光光譜儀

EDX600X光膜厚儀測(cè)厚儀——X熒光光譜儀

 

EDX600是集天瑞儀器多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿足貴金屬成分檢測(cè)的需要,人性化的設(shè)計(jì),使測(cè)試工作更加輕松完成。

EDX600貴金屬檢測(cè)儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位,滿足貴金屬的成分檢測(cè)和鍍層厚度測(cè)量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。

 

性能特點(diǎn)

 

專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
智能貴金屬檢測(cè)軟件,與儀器硬件相得益彰。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。

 

技術(shù)指標(biāo)

 

元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)。
測(cè)量對(duì)象:固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá):ppm。
分析含量一般為:ppm到99.9%。
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá):0.1%。
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為:0.1%。

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

 

單樣品腔。
正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸: 430×380×355mm 
樣品腔尺寸:306×260×78mm 
重量:30kg

 

 

 

 

應(yīng)用領(lǐng)域

 

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
金屬鍍層的厚度測(cè)量和電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。

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