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X光膜厚儀測厚儀優(yōu)惠

簡要描述:

EDX600X光膜厚儀測厚儀優(yōu)惠是集天瑞儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗,以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要,人性化的設(shè)計,使測試工作更加輕松完成。

EDX 600 X光膜厚儀測厚儀優(yōu)惠——X熒光光譜儀

EDX600X光膜厚儀測厚儀優(yōu)惠——X熒光光譜儀

 

EDX600是集天瑞儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗,以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要,人性化的設(shè)計,使測試工作更加輕松完成。

EDX600貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒探測器,以實在的價格定位,滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計,使儀器操作更人性化、更方便。

 

性能特點

 

專業(yè)貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件,與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。

 

技術(shù)指標(biāo)

 

元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)。
測量對象:固體、液體、粉末
分析檢出限可達:ppm。
分析含量一般為:ppm到99.9%。
多次測量重復(fù)性可達:0.1%。
長期工作穩(wěn)定性為:0.1%。

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

 

單樣品腔。
正比計數(shù)盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸: 430×380×355mm 
樣品腔尺寸:306×260×78mm 
重量:30kg

 

 

 

 

應(yīng)用領(lǐng)域

 

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
X光膜厚儀測厚儀金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。

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