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磁性材料用X射線熒光光譜儀

簡要描述:

磁性材料用X射線熒光光譜儀,隨著半導體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學精密機械電子學結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應用模式,轉(zhuǎn)化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結(jié)構(gòu),并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。

EDX 3600K 能散X射線熒光光譜儀

 

儀器介紹 

XX射線熒光光譜儀屬于良好的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學精密機械電子學結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應用模式,轉(zhuǎn)化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結(jié)構(gòu),并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X射線熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ),結(jié)合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果,研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的EDX3600K型X射線熒光光譜儀。

 

EDX3600KX射線熒光光譜儀的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術(shù)達到較高水平。

 

應用領(lǐng)域 

X射線熒光光譜儀專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設(shè)備,主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、磁性材料、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。

同時在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用。

 

性能優(yōu)勢

1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳

使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率達到139eV,各項指標優(yōu)于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線

性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2.測試精度更高,檢出限更低

①專業(yè)化的樣品腔設(shè)計,帶可調(diào)速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。

②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計,保證測試時達到10Pa以下,使設(shè)備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3.分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結(jié)果

采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù),其線性計數(shù)率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結(jié)果,

設(shè)計成高計數(shù)率,大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。

4.一鍵式智能化操作

專業(yè)軟件,良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。

5.強大的自動化功能

①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。

②采用自動穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的*性:利用解譜技術(shù)使譜峰分解,采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6.強度校正法

具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加,內(nèi)置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

7.完善的光路系統(tǒng)

自主研發(fā)的光路系統(tǒng),光程更短,光路損失更少,激發(fā)效果更佳。

8.三重安全防護功能

三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。

9.安全警示系統(tǒng)

警告指示系統(tǒng),通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。

 

儀器配置

鈹窗電制冷SDD探測器

自旋式樣品腔

高效超薄窗X光管

信噪比增強器SNE

超近光路增強系統(tǒng)

可自動開啟的測試蓋

自動切換型準直器和濾光片

真空腔體

自動穩(wěn)譜裝置

90mm×70mm的液晶屏

良好的數(shù)字多道技術(shù)

多變量非線性回歸程序

相互獨立的基體效應校正模型

 

技術(shù)參數(shù)

型號:EDX3600K

X射線源:50KV、1mA

樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm

分析方法:能量色散X熒光分析方法

測量元素范圍:原子序數(shù)為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量

檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據(jù)客戶需要增加元素

含量范圍:ppm~99.99%

檢測時間:10秒以上

檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末

探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率為144±5eV,可選配極速探測器至125eV

激發(fā)源:銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇

攝像頭:高清攝像頭

測井環(huán)境:超真空系統(tǒng),10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以

準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換

自旋裝置:可調(diào)速的自旋裝置

檢出限:對樣品中的大多數(shù)元素來說,檢出限達5~500ppm

真空系統(tǒng):超真空系統(tǒng),10秒可到10Pa

數(shù)據(jù)傳輸:數(shù)字多道技術(shù),快速分析,高計數(shù)率

測試臺:360°電動旋轉(zhuǎn)式

保護系統(tǒng):樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成

樣品放置:*的樣品杯設(shè)計,自帶壓環(huán),可防止樣品晃動

數(shù)字多道技術(shù):計數(shù)率>50kcps,有效計數(shù)率高至500kcps

外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG

操作環(huán)境濕度:≤90%

操作環(huán)境溫度:15℃~30℃

 

軟件優(yōu)勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件,良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。

具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

全新的軟件界面和內(nèi)核,采用FP和EC軟件組合的方法,應用面更加廣泛。

 

檢測實例

 

儀器分析精度:

 

 

 

 

 

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