X射線膜厚檢測儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,電腦操作,非常簡單,江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產廠家,thick8000采用上照方式,移動測試平臺,使整個自動化程度大幅度提高,滿足快速的要求。
產品介紹
X射線膜厚檢測儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,電腦操作,非常簡單,江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)X射線膜厚檢測儀生產廠家,thick8000是公司新款的X射線膜厚檢測儀,采用上照方式,移動測試平臺,使整個自動化程度大幅度提高,滿足快速的要求。
X射線膜厚檢測儀性能優(yōu)勢
1.精密的三維移動平臺
2.的樣品觀測系統(tǒng)
3.良好的圖像識別
4.輕松實現深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準直器,自動切換
6.雙重保護措施,實現無縫防撞
7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動自檢、復位;
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣;
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦;
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點;
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結果。
X射線膜厚檢測儀技術指標
分析元素范圍:硫(S)~鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)
SDD探測器:分辨率低至135eV
良好的微孔準直技術:小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度:15℃~30℃
部分產品
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應用領域
X射線膜厚檢測儀廣泛應用于小螺絲、螺帽、螺栓、電子連接器、汽車配件、端子、PCB線路板、電子元器件等產品的金屬鍍層快速測量。